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發(fā)布時(shí)間：2022-04-02 20:06:58 作者：知網(wǎng)小編 來(lái)源：m.elxoepd.cn
幾乎在所有探測(cè)器中都存在這種噪聲。 它主要出現(xiàn)在大約 1KHz以下的低頻頻域，而且與光輻射的調(diào)制頻率f成反比，故 稱為低頻噪聲或1/f 噪聲。 實(shí)驗(yàn)發(fā)現(xiàn)，探測(cè)器表面的工藝狀態(tài) (缺陷或不均勻等)對(duì)這 種噪聲的影響很大，所以有時(shí)也稱為表面噪聲或過(guò)剩噪聲。 一般說(shuō)，只要限制低頻端的調(diào)制頻率不低于1千赫茲，這 種噪聲就可以防止。 1）產(chǎn)生原因 ?電流噪聲的均方值可用經(jīng)驗(yàn)公式表示為： 為比例系數(shù)，與探測(cè)器制造工藝、電極接觸情況、半導(dǎo)體表面狀態(tài)及器件尺寸有關(guān)；a為與材料有關(guān)的常數(shù)，通常在0.8— —1.3之間，大多數(shù)材料可近似取為1；b與流過(guò)器件的電流I有關(guān)， 通常取值2； ?主要出現(xiàn)在lkHz以下的低頻區(qū)。 2）度量1）產(chǎn)生原因 熱探測(cè)器通過(guò)熱導(dǎo)G與處于恒定溫度的周圍環(huán)境交換熱能。
